JEM-ARM200F（球差透射）

发布者：张彬彬发布时间：2025-04-04浏览次数：22

仪器型号：JEM-ARM200F

生产厂家：日本电子株式会社

加速电压：80-200KV

点分辨率：0.19nm

线分辨率：0.10nm

扫描透射模式分辨率：0.08nm

扫描透射像放大倍率：200-150000000x

透射像放大倍率：50-2000000x

该仪器配备了STEM, EDX, CCD, HAADF等多种附件，

能获取TEM明场、暗场像高分辨像和选区电子衍射，

能进行EDX能谱分析和原子级STEM原子序数像的分析，

STEM结合EDX点、线、面扫描可以进行微区能谱分析