分析测试中心仪器型号：JEM-F200
生产厂家：日本电子株式会社
加速电压：20-200kV；STEM分辨率≤0.14nm (200kV)
先进探测器系统，可快速得到明场（BF）、暗场（DF）和高角环形暗场（HAADF）像
SEI二次电子探测器；双探头能谱，总面积200 mm2
亮点：1、自动进样系统，可避免插、拔样品杆时人为造成
的真空破坏；
2、 配备SEI二次电子探测器，可以对样品表面进行立体成像；
3、超快的Clearview IS相机，最快采集速度达1600fps，可记录原位反应过程；
4、配备原位双倾加热、原位拉伸样品杆、三维重构套件