X射线衍射仪（3台）

仪器型号：Smart Lab

生产厂商：日本理学

主要技术指标：9KW大功率X射线发生器；高精度测角仪2θ最小步进1/10000度；CBO交叉光路，聚焦光路及高强度高分辨平行光路；多用途薄膜测试组件；微区、CBO-α、CBO-E和In-plane测试组件；高速、高能量探测器（能量分辨率20%以下）、二维面探测器（77.5×38.5mm2）；中低温控制系统；48位全自动进样器；

主要功能：粉末样品的物相定性与定量分析；结晶化度、晶粒尺寸测定；确定晶系及晶格畸变、Rietveld精修；织构分析；薄膜材料结构参数测定；晶体面内取向测定；微区样品物相分析。

设备特点：

♦能够实现薄膜材料结构参数测定；

♦微区组件可以实现微区微量样品的准确测试；

♦48位自动进样系统，可实现7×24小时连续测试；

♦二维面探可以用于衍射环探测，与中低温控制系统配合可实现物相原位实时分析；

♦In-plane组件可以同时测量样品垂直方向的结构及深度方向的结构参数。