分析测试中心我校分析测试中心新购的两台场发射透射电子显微镜Talos F200X G2和JEM-F200已安装调试完毕，将首先向校内用户开放共享提供分析测试服务，服务形式包括委托测试、操作培训以及自主上机三种方式。
Talos F200X G2仪器主要技术指标：
1.电子枪：超高亮肖特基场发射电子枪
2.加速电压：20-200kV
3. STEM分辨率：≤0.16nm (200kV)
4.配备多个STEM探头，能够同时采集明场（BF）、环形明场（ABF）、环形暗场（ADF）和高角环形暗场（HAADF）像
5.配备16分割STEM探头，配备差分相位衬度（DPC）、积分差分相位衬度（iDPC）成像功能，可以实现对轻原子成像及易受电子束流损伤样品的成像，可以实现材料内部磁场和电场的探测。
6. EDS探测器：四探头Super-X超级能谱探测器
7.配备超快速高分辨CMOS相机
8.配备洛伦兹模式，可以测量磁性样品
9.配备原位加热样品杆、三维重构套件
地点：分析测试中心 118A，联系人：邓江宁13940467239
预约方式：大型仪器设备共享平台搜索“Talos F200X G2”找到设备后进行预约。
JEM-F200仪器主要技术指标：
1.电子枪：冷场场发射电子枪
2.加速电压：20-200 kV
3.STEM分辨率：≤0.14 nm (200 kV)
4.配备先进探测器系统，可快速得到明场（BF）、暗场（DF）和高角环形暗场（HAADF）像
5.配备SEI二次电子探测器，可以对样品表面进行立体成像
6.EDS探测器：s总面积200 mm2
7.配备Clearview IS相机，可录像记录原位反应过程
8.配备原位双倾加热、原位拉伸样品杆
9.配备三维重构套件
地点：分析测试中心 122A，联系人：董宇13940240198
预约方式：大型仪器设备共享平台搜索“JEM-F200”找到设备后进行预约。