分析测试中心
  • 首页
  • 中心概况
    • 中心简介
    • 专家委员会
    • 技术队伍
  • 仪器设备
    • 电镜分析平台
      • 透射电镜
      • 扫描电镜
      • 电子探针
    • 显微分析平台
      • 形貌分析
      • 成分分析
      • 结构分析
      • 粒径分析
      • 样品制备
    • 物性分析平台
      • 衍射仪
      • 热分析
      • 粒度和Zeta电位
      • 比表面积和孔隙率
      • 气体吸附
    • 力学分析平台
      • 拉伸性能
      • 冲击性能
      • 疲劳性能
    • 无机成分分析
      • 光谱
      • 质谱
      • 色谱
      • 波谱
    • 有机成分分析
      • 波谱
  • 开放共享
  • 收费标准
  • 党建园地
  • 联系我们
1 2
能力范围
时样并行
  • 电镜分析平台
  • 显微分析平台
  • 物性分析平台
  • 力学分析平台
  • 研究探索
留样测试
  • 无机成分分析
  • 有机成分分析
  • 其他尝试
  • 仪器预约
  • 业务领域
  • 测试流程
  • 仪器培训
  • 意见建议

热点新闻

更多>>
  • 分析测试技术交流会—— 扫描电镜技术交流
    2026-04-13
  • 分析测试技术交流会—— x射线精细结构谱仪技术交流
    2026-04-13
  • 分析测试技术交流会——低载荷拉伸机、傅里叶变换红外仪、...
    2026-04-08
  • 分析测试技术交流会——单颗粒纳米流式检测仪技术交流
    2026-04-07
  • 分析测试技术交流会——纳米流式检测仪技术交流
    2026-04-06
  • 分析测试技术交流会——热模拟实验机技术交流
    2026-04-03

通知公告

更多>>
  • 原子力显微镜与纳米红外分析仪联...
  • 分子间相互作用分析仪交流会
  • 显微红外技术交流会的通知
  • 2025年度分析测试中心成果奖励资...
  • 分析测试中心2025年度校内用户成...
  • 分析测试中心成果奖励申请表模板
仪器展示
  • X射线光电子能谱仪
  • 紫外-可见-近红外分光光度计
  • 电感耦合等离子体发射光谱仪(Avio500)
  • X射线荧光光谱仪(ZSX100e)
  • 核磁共振波谱仪
  • 同步热分析仪-质谱仪联用系统
  • X射线应力仪
  • X射线衍射仪(3台)
  • JXA-8530F(场发射探针)
  • ZEISS Ultra Plus(场发射扫描)
  • ZEISS Gemini SEM 460(场发射扫描)
  • ZEISS Gemini SEM 560(场发射扫描)
  • Crossbeam 550(FIB 场发射扫描)
  • TECNAI G20(透射)
  • JEM-F200(场发射透射)
  • Talos F200X G2(场发射透射)
  • JEM-ARM200F(球差透射)
特色能力
  • FLS1000稳态瞬态荧光光谱仪
  • X射线光电子能谱仪
  • 电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)与液相色谱仪(HPLC)
  • 核磁共振波谱仪
  • JEM-F200(场发射透射)
  • Talos F200X G2(场发射透射)
  • JEM-ARM200F(球差透射)
分析测试中心

版权所有:东北大学分析测试中心

地址:辽宁省沈阳市和平区文化路三巷11号,邮编110819

联系电话:024-83686600(物理部),83687675(化学部)

邮箱:fxcszx@mail.neu.edu.cn